集成電路測試設備行業競爭格局及發展趨勢分析（附報告目錄）
1、集成電路測試設備市場情況
測試是集成電路生產制造中的重要環節，而測試設備也是集成電路產線中不可或缺的組成部分。根據測試類型的不同，集成電路測試設備可以分為物理測試設備及電性測試設備，其中物理測試設備包括橢偏儀、掃描電子顯微鏡等設備，而電性檢測設備則包括探針臺、測試機及揀選器等。電性測試設備中，探針臺與揀選器分別搭配測試機實現對晶圓級產品與芯片級產品的測試。
根據測試環節的不同，電性測試又可以分為 WAT 測試、CP 測試及 FT 測試，其中WAT 測試屬于電學性能測試，其測試精度較高，測試結果能夠體現被測樣本的電學性能表現；而 CP 測試與 FT 測試又通常為功能測試，測試結果一般僅能體現被測樣本的功能是否完整，而無法具體得知被測樣本的電學性能表現。相較而言，WAT 測試設備的技術含量、單體價值量等均高于用于功能測試的測試設備。上述集成電路測試流程及其所處的制造環節如下：
相關報告：北京普華有策信息咨詢有限公司《2021-2027年集成電路測試設備行業競爭態勢及投資趨勢分析報告》
在測試設備中，測試機用于檢測芯片功能和性能，技術含量相對較高。并且隨著客戶對于集成電路測試在測試功能模塊、測試精度、響應速度、應用程序定制化、平臺可延展性以及測試數據的存儲、采集和分析等方面提出愈來愈高的要求，測試機的技術壁壘也在不斷提升。
2、集成電路測試設備行業競爭格局
全球半導體測試機市場呈現高集中度的特點，市場占有率最高的美國泰瑞達、日本愛德萬占據了約半數的市場份額，而在 WAT 電性測試設備領域，美國 Keysight 也基本處于市場壟斷地位。在國內市場，少數國產測試設備廠商已進入國內外封測龍頭企業的供應商體系，正通過不斷的技術創新逐漸實現進口替代。
根據測試類型的不同，集成電路測試主要可以分為物理測試與電性測試；根據測試階段的不同，電性測試主要可以分為 WAT 測試、CP測試及 FT 測試，其中 WAT 階段的電性測試精度較高，能夠測試被測樣本的電學性能表現，而 CP 及 FT 環節中的電性測試則通常為功能測試，對測試精度要求較低，僅能測出被測樣本的功能是否有效而無法測出被測樣本的電學性能表現。
3、集成電路測試設備發展趨勢
（1）隨著工藝節點的演進，WAT 測試的重要性突顯
隨著先進工藝節點的演進，集成電路的制造工藝也愈加復雜，由于在集成電路制造工序較多，每一工序下的工藝都對最終產品的成品率均有所影響，因此晶圓廠對于先進制程下每一步工序的成品率提升有著迫切需求。制造程序的增加，工藝改進也提出了更高的要求，因此對晶圓制造過程的監控也變得更為重要，通過 WAT 測試，晶圓廠的工藝工程師能夠更好的定位工藝產生問題的環節，從而精準的改善具體工藝，實現產品成品率的提升。
（2）先進工藝下，測試數據規模大幅提升
先進工藝下，由于集成電路器件密度與復雜度快速提升，因此需要測試的環節與對象亦有所增加，測試數據規模的快速提升對測試硬件及控制軟件亦提出了挑戰。在傳統的硬件架構下，測試機的信號采集、信號處理及記錄的速度往往難以滿足先進工藝下的測試數據吞吐量，因此需要對測試機的硬件架構進行調整，并實現硬件架構與控制軟件的協同，從而提升檢測效率。
（3）測試與設計方案的協同優化
先進工藝下，隨著測試樣本類型及生產工藝的復雜化、多樣化，測試需求快速增加，因此僅提升測試機的測試速度對整體測試效率的提升有限。工程師可以利用 BIST 技術，將被測模塊的設計方案與測試機的測試方法進行協同優化，將一部分測試需求放在設計當中，通過設計與測試的結合，大幅提升測試效率。
（4）本土化服務的市場趨勢突顯
對于集成電路測試設備而言，測試精度是最為核心的指標之一。然而測試精度除受到設備硬件的精度影響外，還受到設備后期安裝調試的影響。因此對于下游客戶而言，想要獲得較為準確的測試結果，除了高精度的硬件設備外，還需要供應商具有優質的服務態度與快速的服務響應能力，因此，測試設備行業本土化服務的市場趨勢突顯。